屏蔽罩是用來屏蔽電子信號的工具，作用就是屏蔽外界電磁波對內部電路的影響和內部產生的電磁波向外輻射。屏蔽罩的側壁底面平整度、小件高度及小孔焊接缺陷會直接影響屏蔽效果，因此，對屏蔽罩進行檢缺陷測是非常必要的。

 檢測項目 

屏蔽罩平面高度、屏蔽罩小件高度、屏蔽罩小孔焊接缺陷、屏蔽蓋定位

 檢測難點 

金屬材質，反光高，工件細小，紋理雜

 檢測方案 

軟件：HVVS 3D缺陷檢測算法

硬件：3D線掃相機

 檢測結果 

采用HV系列軟件獨特的2D+3D缺陷檢測算法，可以檢測屏蔽罩小件高度，定位屏蔽蓋位置，檢測小孔焊接缺陷，檢測產品平整面高度，檢測合格率≥97%