太陽(yáng)能電池是太陽(yáng)能發(fā)電系統(tǒng)中的基礎(chǔ)組件，普遍由晶體硅制成，晶體硅微裂紋產(chǎn)生的電池破損會(huì)嚴(yán)重影響模塊的性能。

組件EL檢測(cè)是根據(jù)硅材料的電致發(fā)光原理對(duì)組件進(jìn)行缺陷檢測(cè)，可在非常短的時(shí)間內(nèi)，準(zhǔn)確檢測(cè)各種缺陷和老化情況，是檢查晶體硅太陽(yáng)能硅片質(zhì)量的重要評(píng)估工具。

 檢測(cè)項(xiàng)目 

電池片內(nèi)部缺陷檢測(cè)，裂片、黑斑、短路、斷柵、漏焊、斷焊等

 解決方案 

百萬(wàn)聚焦鏡頭，高分辨率紅外相機(jī)+HV AI深度學(xué)習(xí)缺陷檢測(cè)技術(shù)

 檢測(cè)結(jié)果 

清晰成像，檢測(cè)精確，使缺陷判定的正確率大大提升